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: SPECTROPORT LIBS- 便携式激光诱导激发光谱(LIBS)金属分析仪

德国SPECTRO（斯派克）品牌的SPECTROPORTLIBS是一款基于LIBS（激光诱导击穿光谱Laser-InducedBreakdownSpectroscopy）技术的便携式金属元素分析仪，专为现场、移动应用而设计，能实现快速、高精度的合金元素分析，特别适用于碳(C)、磷(P)、硫(S)等轻元素的检测，弥补了手持式XRF和多数手持LIBS设备在检测这些元素上的局限性。

: FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF镀层测厚仪，旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

: FT230：具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间，有助于更快地根据测试结果采取行动，减少浪费并提高工作效率。从根本上说，鸿运国际让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。

: 新品速递 | 德国斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT XHH04

新版SPECTROxSORT手持式荧光（ED-XRF）光谱仪是德国斯派克分析仪器公司结合自身对行业应用的透彻领悟和现场金属测量领域的丰富经验，厚积薄发打造的一款创新型便携式荧光光谱分析仪。集一系列实用功能和创新设计为一身，在大幅提高用户的分析速度、保证易用性和操作便利性的同时，保持了德国制造的优异分析性能。

: 日立FT110A台式XRF镀层测厚仪，锌层测厚仪

FT110A是一款台式XRF分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的X射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

: 日立X-Strata920 镀层测厚仪，台式XRF镀层测厚仪

X-Strata920是一款高精度台式XRF镀层测厚仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

: 日立EA1280 台式荧光光谱仪，XRF分析仪

EA1280是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。为什么选择日立XRFRoHS分析仪?操作方便可自动采样灵活校准以适应新的RoHS标准自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果快......

: 日立EA1000AIII 台式X射线荧光光谱仪，台式XRF荧光分析仪

EA1000AIII旨在加速和简化生产环境中的RoHS测试。该分析仪有助于满足当前的RoHS、EN71和无卤素指令，并允许随着指令的变化更新物质控制标准。

: 偏振能量色散X荧光分析仪 OCUBE ED-XRF

CUBE型ED-XRF分析仪为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析同类产品中测试速度出类拔萃：高速高精度，是典型测试速度的两倍应用范围广和准确度高：优化的应用程序包简单易用：只需三个简单步骤即可获得准确的结果。

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再生金属回收制备循环新材料过程中，混料、有害元素超标等难题影响产品质量。手持XRF光谱仪可实现现场无损元素检测，覆盖废料分拣、炉前质控、成品核验全流程，帮助再生资源企业把控成分、规避报废风险，满足环保合规需求。

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